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    超聲波膜厚計

    超聲波膜厚計

    簡要描述:LU-200J超聲波膜厚計

    產品型號: LU-200J超聲波膜厚計

    所屬分類:膜厚計

    更新時間:2015-08-22

    詳細說明:

    測定方法
    超聲波反射式
    測定對象
    樹脂、玻璃、金屬等基體上的涂鍍層
    測定范圍
    10~700um
    測定精度
    <50um±2um    >50um±4%
    分辨率
    1um
    統計功能
    測試數/標準偏差
    zui大值/zui小值/平均值

    信號輸出

    RS232標準接口

    顯示方式

    LCD數顯

    操作面板

    密封防水按鍵

    附屬品

    鐵基體/校正標準片/測頭/電池曲面支架/皮套/說明書

    電源

    5#堿性電池×6個

    體積

    本機120(W)×250(D)×55(H)
    測頭¢63×85(H)

    重量

    本機800g 測頭220g


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